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![]() 支持亚5纳米CMOS技术缩放更薄更高!
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期刊:2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Julien Ryckaert; M. H. Na; Pieter Weckx; Doyoung Jang; P. Schuddinck; et al 出版日期:2019-12-01 |
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