Mechanism of SEI Layer Formation on the Si Electrodes Studied by XPS and ToF-SIMS

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标题	Mechanism of SEI Layer Formation on the Si Electrodes Studied by XPS and ToF-SIMS XPS和ToF-SIMS研究Si电极上SEI层的形成机理相关领域 X射线光电子能谱图层（电子）电极机制（生物学）材料科学硅二次离子质谱法化学分析化学（期刊）化学工程纳米技术光电子学质谱法物理化学色谱法哲学工程类认识论
网址	https://doi.org/10.1149/ma2012-02/9/746
DOI	10.1149/ma2012-02/9/746 doi
其它	期刊：Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society. CD-ROM) 作者：Catarina Pereira-Nabais; Jolanta Światowska; Alexandre Chagnes; Pierre Tran-Van; Michel Cassir; et al 出版日期：2012-06-04
求助人	调皮的半蕾在 2024-09-26 16:32:29 发布自中国，悬赏 10 积分
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