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Competing behavior of interface delamination and wafer cracking during peeling film from ultra-thin wafer
超薄晶片剥离过程中界面分层与晶片开裂的竞争行为
相关领域
薄脆饼
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期刊:International Journal of Solids and Structures 作者:Wei Jian; Hanbin Yin; Ying Chen; Xue Feng 出版日期:2024-09-04 |
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