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Understanding the stress effect of TiN top electrode on ferroelectricity in Hf0.5Zr0.5O2 thin films
锡顶电极应力对Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜铁电性的影响
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Runhao Han; Peizhen Hong; Zhiwei Bao; Mingkai Bai; Jingwen Hou; et al 出版日期:2023-11-16 |
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