标题 |
Stability and Microstructure of Indium Tin Oxynitride Thin Films
氮化铟锡薄膜的稳定性和微观结构
相关领域
材料科学
微观结构
烧结
微晶
陶瓷
铟
氧化铟锡
复合材料
薄膜
锡
氧化物
图层(电子)
冶金
纳米技术
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of the American Ceramic Society 作者:Otto J. Gregory; Matin Amani; Ian M. Tougas; A. J. Drehman 出版日期:2011-09-26 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
已经有人上传了文献,该状态下其他人无法上传,请等待求助人确认该文件是否是他需要的。
如果求助人在 48 小时内还未确认,系统默认应助成功,本求助将自动关闭。
科研通AI2.0 机器人 未找到该文献,机器人已退出,请等待人工下载
19:51:09 未找到该文献,机器人已退出,请等待人工下载19:51:08 科研通AI机器人(中国 香港)收到请求,开始寻找文献19:51:07 已向机器人发送请求
lzengchan@163 求助人 Lv1 发起了本次求助