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 NeuroSim+: An integrated device-to-algorithm framework for benchmarking synaptic devices and array architectures NeuroSim+：用于对突触设备和阵列架构进行基准测试的集成设备到算法框架
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期刊：2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：Pai-Yu Chen; Xiaochen Peng; Shimeng Yu 出版日期：2018-01-31 |
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