标题 |
Young’s modulus measurements of thin films using micromechanics
用微观力学测量薄膜的杨氏模量
相关领域
薄膜
悬臂梁
材料科学
微观力学
模数
杨氏模量
沉积(地质)
复合材料
横截面
纳米技术
结构工程
古生物学
沉积物
复合数
工程类
生物
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:K. Petersen; C. R. Guarnieri 出版日期:1979-11-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|