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MATERIALS CHARACTERIZATION IN THE ABERRATION-CORRECTED SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
像差校正扫描透射电子显微镜中的材料表征
相关领域
扫描透射电子显微镜
表征(材料科学)
电子能量损失谱
材料科学
电子断层摄影术
高分辨率透射电子显微镜
光谱学
原子单位
电子
光学
对比度传递函数
纳米技术
透射电子显微镜
球差
物理
镜头(地质)
量子力学
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其它 |
期刊:Annual review of materials research 作者:M. Varela; Andrew R. Lupini; Klaus van Benthem; Albina Y. Borisevich; Matthew F. Chisholm; et al 出版日期:2005-08-04 |
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