标题 |
Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
使用聚焦离子束技术的欧姆接触制造和层状半导体纳米结构的电学表征
相关领域
材料科学
欧姆接触
聚焦离子束
光电子学
半导体
接触电阻
纳米技术
图层(电子)
离子
量子力学
物理
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DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Visualized Experiments 作者:Ruei‐San Chen; Chih-Che Tang; Wei-Chu Shen; Ying‐Sheng Huang 出版日期:2015-12-05 |
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