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Advances in atomic resolution in situ environmental transmission electron microscopy and 1Å aberration corrected in situ electron microscopy
原子分辨率原位环境透射电镜和1Å像差校正原位电镜研究进展
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期刊:Microscopy Research and Technique 作者:Pratibha L. Gai; Edward Boyes 出版日期:2009-01-12 |
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