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Line-edge roughness in sub-0.18-μm resist patterns
0.18 μ m以下抗蚀剂图案的线边缘粗糙度
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:S. C. Palmateer; Susan G. Cann; Jane E. Curtin; Scott P. Doran; Lynn M. Eriksen; et al 出版日期:1998-06-29 |
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