标题 |
High-temperature stability of Ni-Sn intermetallic joints for power device packaging
功率器件封装用Ni-Sn金属间接头的高温稳定性
相关领域
金属间化合物
材料科学
微观结构
dBc公司
烧结
基质(水族馆)
冶金
焊接
复合材料
电子包装
合金
光电子学
CMOS芯片
海洋学
地质学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Alloys and Compounds 作者:So-Eun Jeong; Seung‐Boo Jung; Jeong‐Won Yoon 出版日期:2021-08-31 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|