标题 |
Dendrite Formation in Power Electronics Packages during HV-H3TRB Testing due to Flux Residue
由于通量残留,在高压-H3 TRB测试期间电力电子封装中形成枝状组织
相关领域
焊剂(冶金)
电力电子
数码产品
残留物(化学)
材料科学
电气工程
工程类
电压
化学
冶金
生物化学
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DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Felix Steiner; Thomas Blank; Dai Ishikawa; Hideo Nakako 出版日期:2024-04-17 |
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