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![]() In-Ga-Zn-O和多晶硅沟道铁电VNANDs相对性能的TCAD变异性研究
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期刊:2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Mischa Thesberg; Zlatan Stanojević; F. Schanovsky; Jose María González-Medina; G. Rzepa; et al 出版日期:2024-12-07 |
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