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Further considerations on the high-cycle fatigue of micron-scale polycrystalline silicon
关于微米级多晶硅高周疲劳的进一步思考
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期刊:Scripta Materialia 作者:Daan Hein Alsem; Christopher L. Muhlstein; Christopher L. Muhlstein; Robert O. Ritchie 出版日期:2008-11-01 |
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