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书籍(章节) Oxide Traps, Border Traps, and Interface Traps in SiO2
SiO2中的氧化物陷阱、边界陷阱和界面陷阱
相关领域
氧化物
材料科学
接口(物质)
光电子学
复合材料
冶金
毛细管数
毛细管作用
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期刊:CRC Press eBooks 作者:D.M. Fleetwood; Sokrates T. Pantelides; Ronald D. Schrimpf 出版日期:2008-11-19 |
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