标题 |
Unveiling the influence of temperature and interface traps on the performance of source-all-around vertical TFET
揭示温度和界面陷阱对源极全向垂直TFET性能的影响
相关领域
阈下摆动
隧道场效应晶体管
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期刊:Microelectronics Journal 作者:Potharaju Ramesh; Bijit Choudhuri 出版日期:2024-04-16 |
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