标题 |
Cell Oxide TDDB (Time Dependent Dielectric Breakdown) in Saddle FinFET
鞍形FinFET中的电池氧化物TDDB(时间相关介电击穿)
相关领域
随时间变化的栅氧化层击穿
材料科学
介电强度
德拉姆
栅氧化层
马鞍
氧化物
电气工程
击穿电压
威布尔分布
光电子学
晶体管
电子工程
电介质
电压
工程类
结构工程
冶金
数学
统计
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其它 |
期刊: 作者:Ching Hua Chen; Ssu-yu Liu; Tsai Sung Yuan; Hsin Tai; Huang Sheng Hui; et al 出版日期:2021-12-21 |
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