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 Dynamic high temperature operating life test methodology for long-term switching reliability of GaN power devices GaN功率器件长期开关可靠性的动态高温工作寿命测试方法
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Muhammad Farhan Tayyab; Marco Silvestri; Mirko Bernardoni; Thomas Basler; Gilberto Curatola 出版日期：2022-09-25 |
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