标题 |
![]() 倒装芯片封装中铜柱凸块的氧化控制
相关领域
颠簸
倒装芯片
材料科学
热铜柱凸点
润湿
焊接
模具(集成电路)
支柱
基质(水族馆)
炸薯条
焊剂(冶金)
光电子学
冶金
复合材料
纳米技术
机械工程
电气工程
工程类
地质学
海洋学
胶粘剂
图层(电子)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Wen Yuan Chuang; Wen Hung Huang; Eu Poh Leng; Taiyu Chen 出版日期:2022-10-19 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|