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Double-Phase Adaptive Neural Network for Condition-Based Monitoring of p-GaN HEMT Under Repetitive Short-Circuit Stresses
重复短路应力下p-GaN HEMT状态监测的双相自适应神经网络
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期刊:IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者:Wenjuan Mei; Zhen Liu; Chaowu Pan; Ouhang Li; Yuanzhang Su; et al 出版日期:2023-01-01 |
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