| 标题 |
 Virtual Metrology for Multistage Processes Using Variational Inference Gaussian Mixture Model and Extreme Learning Machine 基于变分推理高斯混合模型和极限学习机的多级过程虚拟计量
相关领域
计量学
推论
混合模型
高斯过程
计算机科学
机器学习
人工智能
高斯分布
工程类
数学
统计
物理
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者：Tianhong Pan; Lu Liu; Menghu Li 出版日期：2024-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
爱静静
现代青枫
面向杂志编论文
嗯哼
寻道图强
浅尝离白
萧水白
寒冷苗条
sutharsons
从容芮
冷傲的傲霜
YifanWang
gnr2000
InfoNinja
Singularity
TrucCSC
沉默的小天鹅
贰鸟
spark810
andrele
皖公网安备34019202002308
