Diffusion Mechanisms and Intrinsic Point-Defect Properties in Silicon

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标题	Diffusion Mechanisms and Intrinsic Point-Defect Properties in Silicon 硅中本征点缺陷的扩散机制和性质相关领域掺杂剂材料科学硅兴奋剂晶体缺陷扩散光电子学二极管晶体管半导体纳米技术化学物理制作凝聚态物理电气工程化学热力学物理工程类病理电压医学替代医学
网址	https://doi.org/10.1557/mrs2000.94
DOI	10.1557/mrs2000.94 doi
其它	期刊：MRS Bulletin 作者：H. Bracht 出版日期：2000-06-01
求助人	包容的sakura 在 2024-11-04 13:47:47 发布自湖北，悬赏 10 积分
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