标题 |
Lifetime and capture cross-section studies of deep impurities in silicon
硅中深部杂质的寿命和俘获截面研究
相关领域
杂质
硅
物理
铟
材料科学
锗
原子物理学
光电子学
量子力学
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DOI | |
其它 |
期刊:Materials Science and Engineering 作者:E. Schibli; A. G. Milnes 出版日期:1968-01-01 |
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