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 Interface traps, correlated mobility fluctuations, and low-frequency noise in metal–oxide–semiconductor transistors 金属氧化物半导体晶体管中的界面陷阱、相关迁移率波动和低频噪声
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Daniel M. Fleetwood 出版日期：2023-04-24 |
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