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[高分]
  Lifetime prediction of power MOSFET based on LSTM with successive variational mode decomposition and error compensation 基于逐次变分模式分解和误差补偿的LSTM功率MOSFET寿命预测
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期刊：IEICE Electronics Express 作者：Hongyu Ren; Yaoyi Yu; Junliang Liu; Junjie Zhou; Xiong Du 出版日期：2023-06-27 |
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