标题 |
![]() IGBT芯片破坏模式的数值分析
相关领域
绝缘栅双极晶体管
串扰
GSM演进的增强数据速率
材料科学
炸薯条
光电子学
电子工程
电气工程
计算机科学
工程类
电压
电信
|
网址 |
AI链接 ieee.org |
DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
其它 |
期刊:European Conference on Power Electronics and Applications 作者:U. Knipper; F. Pfirsch; T. Raker; J. Niedermeyr; G. Wachutka 出版日期:2009-10-06 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|