标题 |
Characterization of Nb2O5, Ta2O5 and SiO2 single layers by spectrophotometry and ellipsometry
Nb2O5、Ta2O5和SiO2单层的分光光度法和椭偏法表征
相关领域
椭圆偏振法
分光光度法
折射率
材料科学
色散(光学)
分析化学(期刊)
表征(材料科学)
氧化物
光学
光电子学
化学
薄膜
色谱法
纳米技术
物理
冶金
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Optical Interference Coatings Conference (OIC) 2022 作者:Vladimir Pervak; Anna Sytchkova 出版日期:2022-01-01 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|