标题 |
A Deep Learning Model for Robust Wafer Fault Monitoring With Sensor Measurement Noise
具有传感器测量噪声的鲁棒晶圆故障监测的深度学习模型
相关领域
人工智能
故障检测与隔离
特征提取
模式识别(心理学)
自编码
分类器(UML)
预处理器
噪音(视频)
状态监测
计算机科学
数据预处理
降噪
噪声测量
工程类
电子工程
深度学习
电气工程
图像(数学)
执行机构
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期刊:IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者:Hoyeop Lee; Youngju Kim; Chang Ouk Kim 出版日期:2016-11-16 |
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