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Nondestructive Imaging of Manufacturing Defects in Microarchitected Materials
微结构材料制造缺陷的无损成像
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期刊:ACS applied engineering materials 作者:Brian Blankenship; Timon Meier; Sophia Arvin; Jingang Li; Nathan Seymour; et al 出版日期:2024-04-15 |
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