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Electric field metrology for SI traceability: Systematic measurement uncertainties in electromagnetically induced transparency in atomic vapor
硅可追溯性的电场计量:原子蒸汽中电磁感应透明度的系统测量不确定度
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Christopher L. Holloway; Matt T. Simons; Joshua A. Gordon; Andrew Dienstfrey; David A. Anderson; Georg Raithel 出版日期:2017-06-20 |
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