标题 |
Short Term Overstress Degradation of ESD Avalanche Diodes Breakdown Characteristics
ESD雪崩二极管击穿特性的短期过应力退化
相关领域
雪崩二极管
雪崩击穿
击穿电压
材料科学
二极管
光电子学
齐纳二极管
降级(电信)
静电放电
撞击电离
随时间变化的栅氧化层击穿
单光子雪崩二极管
硅
电压
俘获
电气工程
栅氧化层
工程类
晶体管
雪崩光电二极管
化学
电离
离子
生态学
有机化学
探测器
生物
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Hossein Sarbishaei; Vladislav Vashchenko; Andrei Shibkov 出版日期:2022-09-18 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|