标题 |
A VIE-PEEC Method with Prism and Tetrahedron Mesh for Circuit Parameters Extraction from Complex Packaging Structures
复杂封装结构电路参数提取的棱镜和四面体网格VIE-PEEC方法
相关领域
四面体
部分元件等效电路
棱镜
萃取(化学)
计算机科学
电子工程
等效电路
材料科学
电气工程
工程类
数学
光学
物理
几何学
电压
化学
色谱法
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其它 |
期刊: 作者:Jing Wang; Qiang‐Ming Cai; Feng Guo; Yu Tang; Tao Zhou; et al 出版日期:2024-04-21 |
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