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 Long-Term Prediction of Multistress Accelerated Aging of Capacitors by Long Short-Term Memory Network 长短期记忆网络对电容器多应力加速老化的长期预测
相关领域
过度拟合
辍学（神经网络）
期限（时间）
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Hao Liu; Tim Claeys; Davy Pissoort; Guy A. E. Vandenbosch 出版日期：2023-01-01 |
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