GENERAL EQUATION OF FOUR PROBES METHOD FOR RESISTIVITY MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR MATERIALS

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标题	GENERAL EQUATION OF FOUR PROBES METHOD FOR RESISTIVITY MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR MATERIALS 半导体材料电阻率测量的四探针法通用方程相关领域电阻率和电导率维数（图论）半导体点（几何）直线（几何图形）薄板电阻接触电阻材料科学光学数学分析物理计算物理学数学光电子学几何学纳米技术量子力学纯数学图层（电子）
网址	https://doi.org/10.7498/aps.34.1509
DOI	10.7498/aps.34.1509 doi
其它	期刊：Wuli xuebao 作者：Chen Cun-Li 出版日期：1985-01-01
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