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 Effect of Ni(P) Layer Thickness on Interface Reaction and Reliability of Ultrathin ENEPIG Surface Finish Ni（P）层厚度对ENEPIG超薄表面处理界面反应及可靠性的影响
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期刊：Materials 作者：Panwang Chi; Yesu Li; Hongfa Pan; Yibo Wang; Nancheng Chen; et al 出版日期：2021-12-19 |
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