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 Gate-oxide-short defect analysis and fault modeling in FinFETs 鳍式场效应晶体管中的栅氧化短路缺陷分析和故障建模
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Roya Dibaj; D. Al-Khalili; Maitham Shams; Saman Adham 出版日期：2021-12-31 |
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