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DC/RF Hysteresis in Microwave pHEMT Amplifier Induced by Gate Current—Diagnosis and Elimination
微波pHEMT放大器中由栅极电流引起的DC/RF迟滞——诊断与消除
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期刊:IEEE transactions on microwave theory and techniques 作者:Nai‐Chung Kuo; Pin-Sung Chi; Almudena Suárez; Jing-Lin Kuo; Pei‐Chen Huang; et al 出版日期:2011-11-01 |
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