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[高分]
 High-performance one-stage detector for SiC crystal defects based on convolutional neural network 基于卷积神经网络的高性能SiC晶体缺陷单级检测仪
相关领域
卷积神经网络
计算机科学
Crystal（编程语言）
碳化硅
探测器
人工智能
背景（考古学）
材料科学
光电子学
电信
程序设计语言
古生物学
冶金
生物
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| 其它 |
期刊：Knowledge-Based Systems 作者：Haochen Shi; Zhiyuan Jin; Wenjing Tang; Jing Wang; Kai Jiang; et al 出版日期：2023-09-16 |
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