标题 |
Study and application of wright etch in sub-quarter-micron technology
亚四分之一微米工艺中莱特刻蚀的研究与应用
相关领域
微电子
硅
材料科学
薄脆饼
堆积
光电子学
晶体管
蚀刻(微加工)
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电气工程
电子工程
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工程类
物理
核磁共振
图层(电子)
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期刊:IEEE International Conference on Semiconductor Electronics 作者:S.P. Neo; O.L. Phong; Zhigang Song; Chong Khiam Oh; Kuo-Feng Lo 出版日期:2004-01-01 |
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