标题 |
Scanning tunneling microscopy study on two-dimensional topological insulators
相关领域
拓扑绝缘体
扫描隧道显微镜
自旋电子学
材料科学
拓扑(电路)
凝聚态物理
物理
纳米技术
数学
铁磁性
组合数学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Chinese Physics 作者:Zhi-Mo Zhang; Wen-Hao Zhang; Ying-Shuang Fu 出版日期:2019-01-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|