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Bulk Defect-Mediated Absorption Sub-Bandgap All-Silicon Photodetector with Low Dark Current Density at Ambient Temperatures
常温低暗电流密度体缺陷介导吸收亚带隙全硅光电探测器
相关领域
暗电流
材料科学
钝化
光电探测器
光电子学
带隙
比探测率
吸收(声学)
退火(玻璃)
电流密度
硅
图层(电子)
纳米技术
量子力学
物理
复合材料
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其它 |
期刊:ACS Photonics 作者:Wu Li; Yu Liang; Xiyuan Dai; Fengyang Ma; S. Y. Wang; et al 出版日期:2023-09-26 |
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