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 Deep Residual Neural Network-Based Defect Detection on Complex Backgrounds 基于深度残差神经网络的复杂背景缺陷检测
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计算机科学
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Chao-Ching Ho; Miguel A. Hernández; Yifan Chen; Chih‐Jer Lin; Chin‐Sheng Chen 出版日期：2022-01-01 |
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