标题 |
Enhancing Mechanical Reliability of Silver Sintered Joints With Copper Nanowires in High-Power Electronic Devices
铜纳米线增强大功率电子器件银烧结接头的机械可靠性
相关领域
材料科学
铜
纳米线
复合材料
冶金
纳米技术
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DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Alicia Medina Garcia; J.L. Harris; David Huitink 出版日期:2023-10-24 |
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