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Insight note: X‐ray photoelectron spectroscopy (XPS) peak fitting of the Al 2p peak from electrically isolated aluminum foil with an oxide layer
Insight note:来自具有氧化层的电绝缘铝箔的Al 2p峰的X射线光电子能谱(XPS)峰拟合
相关领域
X射线光电子能谱
氧化物
铝
金属
分析化学(期刊)
氧化铝
箔法
图层(电子)
材料科学
化学
纳米技术
冶金
核磁共振
物理
复合材料
色谱法
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期刊:Surface and Interface Analysis 作者:Alvaro J. Lizarbe; George H. Major; Vincent Fernandez; Neal Fairley; Matthew R. Linford 出版日期:2023-05-23 |
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