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 In situ memory characteristics of thermal disturbance in low-voltage organic field-effect transistors 低压有机场效应晶体管热扰动的原位记忆特性
相关领域
晶体管
材料科学
电压
光电子学
原位
热稳定性
电气工程
化学
工程类
有机化学
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期刊：Journal of physics and chemistry of solids 作者：Wei‐Yang Chou; Shasha Peng; Hsin-Hsiu Lin; Horng-Long Cheng 出版日期：2022-05-01 |
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