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 P‐15: The Back‐channel Effect in Low Temperature Poly‐Si Thin Film Transistors P-15：低温多晶硅薄膜晶体管中的背沟道效应
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
晶体管
光电子学
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期刊：SID Symposium Digest of Technical Papers 作者：Ying Shen; Xiaojing Liu; Xiaoxiao Guo; Wei‐Bin Zhang; Xiujian Zhu 出版日期：2024-06-01 |
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