标题 |
The exit-wave power-cepstrum transform for scanning nanobeam electron diffraction: robust strain mapping at subnanometer resolution and subpicometer precision
扫描纳米束电子衍射的出射波功率倒谱变换:亚纳米分辨率和亚皮米精度的鲁棒应变映射
相关领域
衍射
材料科学
光学
格子(音乐)
电子衍射
计算物理学
物理
声学
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其它 |
期刊:Ultramicroscopy 作者:Elliot Padgett; Megan E. Holtz; Paul Cueva; Yu‐Tsun Shao; Eric Langenberg; et al 出版日期:2020-05-04 |
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