Defect Engineering for High Performance and Extremely Reliable a‐IGZO Thin‐Film Transistor in QD‐OLED

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标题	Defect Engineering for High Performance and Extremely Reliable a‐IGZO Thin‐Film Transistor in QD‐OLED QD-OLED中高性能高可靠性a-IGZO薄膜晶体管的缺陷工程相关领域薄膜晶体管材料科学光电子学晶体管无定形固体有机发光二极管纳米技术电气工程电压图层（电子）结晶学工程类化学
网址	https://doi.org/10.1002/aelm.202101273
DOI	10.1002/aelm.202101273 doi
其它	期刊：Advanced electronic materials 作者：Young‐Gil Park; Dong-Yeon Cho; Ran Kim; Kang Hyun Kim; Ju Won Lee; et al 出版日期：2022-02-18
求助人	waitamoment 在 2024-08-26 10:40:02 发布自中国，悬赏 10 积分
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