| 标题 |
 Depth localization of subsurface defects by optical dark-field confocal microscopy 光学暗场共聚焦显微镜对亚表面缺陷的深度定位
相关领域
暗场显微术
共焦显微镜
共焦
显微镜
光学
材料科学
亮场显微术
领域（数学）
光学显微镜
扫描共焦电子显微镜
物理
数学
扫描电子显微镜
纯数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Measurement Science and Technology 作者：Jian Liu; Yong Jiang; Z.C. Wang; Chongliang Zou; Chenguang Liu 出版日期：2024-07-02 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
含蓄的明雪
彭于彦祖
薰硝壤
苏卿
pcr163
哎嘿
甜甜玫瑰
吃不饱星球球长
暮霭沉沉
互助遵法尚德
Singularity
iNk
tianzml0
Henry
嗯哼
Yziii
oceanao
从容芮
Frank
皖公网安备34019202002308
